石墨片缺陷检测/尺寸量测设备

产品简介

采用光机电一体化解决方案,由机器视觉代替人眼,并采用深度学习算法模型替代人工检测,效率提升20倍。

漏检率(功能性缺陷)
%

0

漏检率(非功能性缺陷)
%

<0.1

过杀率
%

<2

速度
m/min

>10